Najwyższej klasy optyka firmy Leica w niwelatorach NA2 i NAK2 daje jasny obraz o wysokim kontraście.
Przycisk do sprawdzania kompensatora
Obustronne śruby ruchu leniwego bez końca
Zgrubne i dokładne ogniskowanie
Dostępny opcjonalny okular
najwyższej klasy optyka
Dane techniczne
NA2 / NAK2
Dokładność*
0.7 mm (zależnie od łat i techniki pomiaru) 0.3 mm (z mikrometryczną płytką płasko-równoległą)
Powiększenie
standardowo: 32x okular FOK73 (opcja): 40x
Najkrótsza ogniskowa
1.6 m
Dokładność kompensatora
0.3''
* Dokładność podwójnej niwelacji ciągu o długości 1 km
Aby podnieść dokładność, na lunetę może zostać założona mikrometryczna płytka płasko-równoległa. Pozwala ona na bezpośredni odczyt z dokładnością 0.1 mm oraz na oszacowania odczytu z dokładnością 0.01 mm. To powoduje, że niwelatory NA2 i NAK2 są idealnymi narzędziami do pomiarów deformacji lub zastosowań w przemyśle.
Model NAK2 ma wewnętrzny szklany krąg pozwalający na odczyt kątów poziomych. W połączeniu z możliwością obliczenia odległości na podstawie odczytu z łaty zwiększa to znacznie funkcjonalność niwelatora.
Chcesz wiedzieć więcej?
Chcesz dowiedzieć się więcej o tym produkcie?
Proszę, zaznacz interesujący Cię produkt, kraj, a następnie kliknij [Dalej] by skontaktować się z najbliższym przedstawicielem Leica Geosystems:
